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Microtrac:作為一個顆粒表征解決方案的供應(yīng)商,提供三條產(chǎn)品線,在三大洲擁有研發(fā)和技術(shù)中心。
散射光分折: 作為粒度測量的通用方法—靜態(tài)激光衍射法的領(lǐng)導(dǎo)者,還提供先進(jìn)的動態(tài)光散射納米粒度儀,用于納米顆粒的表征。
圖像分析: 基于動態(tài)圖像分析技術(shù),為顆粒大小和形態(tài)的測定提供了高質(zhì)量的PartAn系列測量系統(tǒng)。這些圖像分析儀的開發(fā)和生產(chǎn)地點(diǎn)位于德國的哈恩。
比表面和孔徑測量: 另外一條產(chǎn)品線采用氣體吸附法為粉體樣品的比表面值,BET值和孔徑測量提供了吸附系列的分析儀器。開發(fā)和生產(chǎn)以及裝配地點(diǎn)位于日本大阪的表面分析中心。
Microtrac一直致力于為全球客戶提供先進(jìn)的測量技術(shù),來獲得可靠的測量結(jié)果。更多信息請瀏覽 Microtrac 官網(wǎng):http://www.microtrac.com/
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滬公網(wǎng)安備 31011502009866號 滬(浦)應(yīng)急管危經(jīng)許[2020]203567(FYS)
